成果简介
市面上的大多数激光干涉仪仅有一个工作波长,为解决重大任务中特定工作波长下的光学元件精密检测问题,我们
首次提出600-1600nm 多波长高精度激光干涉技术,解决了传统单一波长干涉测量技术不能实现宽带多波长同时检测的
问题。本成果涉及光源同轴合束、高精度宽光谱扩束及成像系统的超消色差设计、高精度光学元件的加工、镀膜和装调
等多方面技术创新。
技术优势
本技术成果支持在600-1600nm 波段内的任意波长下对口径小于等于150mm 的平面光学元件的波前误差进行精确
移相测量。
性能指标
性能参数 | 指标 |
工作波长 | 600-1600nm 波段(标配最多可接4 台单纵模激光器) |
移相方式 | PZT 机械移相 |
测量口径 | ≥ Φ150mm |
测量腔长 | ≥ 1.50m |
相机个数 | 1 |
相机分辨率 | 640×480 |
面形误差PV 测量精度 | 优于λ/20 |
面形误差测量重复性RMS | 优于0.60nm (Mean+2σ) |
应用场景
对工作波长在600-1600nm 波段内的镀膜(或未镀膜)光学元件的面形、波前误差等参数进行高精度测量,可测量
的元件材料包含玻璃、塑胶、陶瓷、硅片和抛光的金属等。
我们将于24小时内与您取得联系
我们将于24小时内与您取得联系